Fischerscope X‑RAY XDL® 230, non-destruktif (tahribatsız) ölçüm teknolojisi sunan gelişmiş bir enerji dispersif X‑ray floresans (EDXRF) spektrometresidir. Bu cihaz, özellikle kaplama kalınlığı ölçümleri ve metal içerik analizleri gibi yüksek hassasiyet gerektiren uygulamalar için özel olarak tasarlanmıştır. Enerji dağılımlı X‑ray teknolojisi sayesinde, örneklerin yapısına zarar vermeden yüzey üzerindeki farklı katmanların bileşimi ve kalınlığı hassas şekilde analiz edilebilir.
Zemin tipi (bench-top) yapıya sahip olan bu model, laboratuvar ve üretim ortamlarında kullanım kolaylığı sağlayacak şekilde optimize edilmiştir. Manuel X/Y sahne ile numunelerin konumlandırılması sağlanırken, motorlu Z ekseni sayesinde odaklama işlemleri hızlı ve doğru biçimde gerçekleştirilebilir. Bu donanım özellikleri, özellikle seri ölçüm işlemlerinde zamandan tasarruf sağlar ve operatör hatalarını minimize eder.
Cihazın sunduğu yüksek çözünürlük, geniş ölçüm aralığı ve güvenilir sonuçlar, kalite kontrol, AR-GE ve üretim süreçlerinin optimizasyonu gibi alanlarda büyük avantajlar sunar. Gelişmiş yazılım arayüzü sayesinde kullanıcılar farklı ölçüm senaryolarını kolayca tanımlayabilir, veri raporlamalarını otomatikleştirebilir ve analiz süreçlerini hızlıca tamamlayabilir.
● Koruyucu ve dekoratif kaplamaların kalınlık ölçümleri (örneğin: elektrokaplama, krom kaplama)
● Gelen mal kabul, kalite kontrol ve süreç izleme (incoming inspection, process control)
● Elektronik ve yarı iletken sektöründe işlevsel ince kaplama analizleri
● PCB (baskılı devre kartı) üzerinde ince metal film ölçümleri
● Elektro kaplama banyolarındaki çözelti analizleri
Bu uygulamalar sayesinde hem üretimde kalite güvence sistemi entegre edilir hem de analiz süreçleri hızlanır.
● Yüksek Ölçüm Doğruluğu ve Uzun Vadeli Stabilite: Az calibrasyon gerektiren sistemle zamandan tasarruf sağlar
● Hızlı ve Tekrarlanabilir Ölçümler: Proportional counter tüp kullanımı sayesinde yüksek sayım oranı ve hızlı ölçüm yapılabilir
● Ayarsız Kalibrasyon Metodu: Fischer’in fundamental parametre metodu ile standart kalibrasyon gerekmez, bu da ölçüm güvenilirliğini artırır
● Kullanıcı Dostu Tasarım: Video-mikroskop, lazer işaretleyici, C-slot aksesuarı ve otomatik XY sahne ile örnek yerleştirilmesi kolay ve hassasdır
● Yasal ve Güvenlik Sertifikaları: DIN ISO 3497 ve ASTM B 568 standartlarına uygundur; tam korumalı cihaz yapısı ile Almanya’nın radyasyon koruma yönetmeliğine göre onaylıdır
● Yayılma önleyici (DCM) ölçüm sistemi sayesinde farklı yüksekliğe sahip yüzeylerde bile tutarlı ölçümler yapılabilir
● Minimum ölçüm noktası çapı: ≈ 0,2 mm, bu sayede çok küçük parçalarda bile yüksek hassasiyetli analiz mümkündür
● Cihazda proportional counter tüp detektörü yer alır, bu sayede kısa ölçüm süresi ve yüksek sayım oranı avantajı sunar
● Motorlu Z ekseni ve manuel XY‑sahne ile örnek yerleştirme kolay ve tekrarlanabilir şekildedir
● Video mikroskop + lazer işaretleyici entegrasyonu sayesinde ölçüm noktasının konumlandırılması son derece hassastır
● WinFTM® yazılımı, kapsamlı veri analiz ve raporlama imkânı sağlar; kalibrasyona ihtiyaç duyulmadan temel parametrelerle ölçüm yapılabilir
Sektör | Uygulama Alanı |
---|---|
Otomotiv & Metal | Elektrokaplamalı parçalarda (örn. vida, somun, galvanizli ekipmanlarda) korozyon koruma ve kalınlık ölçümü |
Elektronik & PCB | Altın/nikel bakır kaplamalarında iletişim kontağı analizleri, RoHS uyumluluğu denetimi |
Dekoratif Kaplamalar | Krom, nikel, bakır ve ABS yüzeylerin dekoratif film kalınlığı ölçümleri |
Kaplama Banyoları | Kaplama çözeltisinin metal içeriği analizleri (Cu/Ni/Au gibi element konsantrasyonu) |
Fischerscope X‑RAY XDL® 230, çok katmanlı yüzeylerin kaplama kalınlıklarının hassas ölçümü ve elementel analizlerinin yapılması gereken endüstriyel ortamlarda yüksek performans sunar. ISO 3497, ASTM B568 gibi uluslararası standartlara uygunluk gösteren yapısıyla, kalite güvencesi sağlamak isteyen firmalar için ideal bir çözümdür.
Hem hızlı hem de tekrarlanabilir sonuçlar sunan bu sistem, metal kaplama endüstrisi, otomotiv, havacılık, elektronik ve günlük üretim kontrol süreçlerinde geniş bir uygulama alanına sahiptir. Kullanımı kolay arayüzü, teknik bilgi seviyesi ne olursa olsun her kullanıcı tarafından rahatça yönetilebilir.
Yüksek hassasiyet, güvenilirlik, uzun ömürlü kullanım ve sektörel esneklik gibi özellikleri sayesinde Fischerscope X‑RAY XDL® 230, laboratuvarlar ve üretim hatlarında verimliliği artırmak ve hata oranlarını düşürmek isteyen işletmeler için vazgeçilmez bir analiz cihazıdır.